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桌面XAS測(cè)試是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。

發(fā)射譜XES是一種重要的分析技術(shù)，主要用于研究材料的電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)。硬X射線具有較高的能量，能夠深入樣品內(nèi)部，使XES成為探測(cè)材料深層信息的強(qiáng)有力工具。

RapidXAFS 2M吸收譜XAFS是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。

RapidXAFS 1M臺(tái)式X射線吸收譜儀是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜RapidXAFS只能在各個(gè)同步輻射光源上測(cè)試。由于光源機(jī)時(shí)有限，無(wú)法滿足眾多科研工作者的測(cè)試需求。而近些年，XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級(jí)期刊的“標(biāo)配”，致使越來(lái)越多課題組需要XAFS測(cè)試。