臺式XAFS是一種無需依賴同步輻射光源，即可在常規實驗室環境中實現高精度X射線吸收精細結構測量的分析設備。它通過X射線單色器設計或羅蘭圓結構，將X射線能量聚焦至特定范圍（通常為4.5-25 keV），結合透射或熒光檢測模式，獲取材料中特定元素的局域原子結構、電子態及配位環境信息。

　　臺式XAFS的主要功能包括以下幾個方面：

　　1、材料結構分析功能

　　局域原子結構表征：能夠確定吸收原子周圍局部環境的配位數、鍵長、鍵角等結構參數，提供原子尺度上的結構信息，對于研究非晶材料、納米材料、催化劑等短程有序材料的微觀結構具有重要意義。

　　化學價態識別：通過分析X射線吸收邊的能量位置和近邊結構（XANES）特征，可以確定元素的化學價態，區分不同價態的同種元素，有助于深入理解材料的電子結構和化學性質。

　　2、化學狀態分析功能

　　配位環境分析：可揭示元素在材料中的配位情況，包括配位原子的種類、配位幾何構型等，了解元素與周圍原子的成鍵方式和相互作用，為研究材料的化學反應活性、催化性能等提供依據。

　　電子結構研究：基于X射線吸收光譜的數據，能夠推導出物質的態密度、電子云分布等電子結構信息，有助于理解材料的導電性、磁性、光學性質等物理性能與電子結構之間的關系。

　　3、動態過程監測功能

　　原位反應監測：搭配定制的原位反應池，可在實驗過程中實時監測樣品在化學反應、電化學反應、熱處理等過程中的結構和化學狀態變化，為研究反應機理、動力學過程以及材料的動態性能提供直接的證據。

　　時間分辨研究：雖然臺式XAFS的時間分辨率相對同步輻射XAFS較低，但在一定程度上仍可用于研究一些較慢的動態過程，如電池充放電過程中電極材料的結構和價態變化、催化劑在反應過程中的結構演變等。